OLYMPUS/奧林巴斯GX53倒置顯微鏡概述

廣泛應(yīng)用于鋼鐵、汽車、電子及其他制造行業(yè)。用戶只需將樣品

倒扣放置在載物臺(tái)上即可檢測拋光金屬和切片樣品。樣品底部無需平整處理，并

且尺寸可以較厚、較大、或者較重。

GX53能夠提供傳統(tǒng)顯微鏡觀察方法難以獲得的清晰圖像。在配合奧林巴斯

Stream圖像分析軟件使用情況下，該顯微鏡可讓從觀察到圖像分析及報(bào)告的檢測

流程得到簡化

GX53顯微鏡的各種觀察功能可獲得清晰銳利的圖像，讓用戶能夠?qū)悠愤M(jìn)行可靠的缺陷檢

測。奧林巴斯Stream圖像分析軟件的新型照明技術(shù)和圖像采集方案可為用戶提供評(píng)估樣品

和記錄研究結(jié)果的更多選擇

從不可見到可見：MIX技術(shù)

MIX技術(shù)將暗場與其他觀察方法（如明場或偏光）結(jié)合使用，獲得的觀察圖像。MIX觀察能夠讓用戶觀察傳統(tǒng)顯微鏡難以觀察

的樣品，甚至可以呈現(xiàn)樣品表面細(xì)微的高度差異。暗場觀察所用的環(huán)形LED照明設(shè)備的定向暗場功能可在特定時(shí)間內(nèi)照明一個(gè)或多

個(gè)象限。這樣可以減少樣品光暈，對(duì)于顯示表面紋理非常有用。

顆粒分析 – 計(jì)數(shù)和測量解決方案

顯微組織中的晶粒尺寸

探測目標(biāo)以及測量尺寸分布是數(shù)碼成像最重要的應(yīng)用之一。奧林巴斯Stream軟件的計(jì)數(shù)和測量解決方案利用高級(jí)閾值法實(shí)現(xiàn)目標(biāo)

（如顆粒和劃痕）與背景的可靠分離?？墒褂贸^50種不同的參數(shù)對(duì)樣品進(jìn)行測量或評(píng)級(jí)，包括形狀、大小、位置和像素特性等。

OLYMPUS/奧林巴斯GX53倒置顯微鏡技術(shù)參數(shù)