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Krautkramer MIC 10超聲波硬度計(jì)華東代理

簡(jiǎn)要描述:Krautkramer MIC 10超聲波硬度計(jì)華東代理
GE的MIC 10可根據(jù)UCI方法(超聲波接觸阻抗 - 根據(jù)ASTM A1038和DIN 50159標(biāo)準(zhǔn)化)快速方便地進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)硬度測(cè)試。超聲波硬度計(jì)由手持式PDA和CUI測(cè)量探頭組成,兩者之間通過(guò)線纜連接,通過(guò)硬度計(jì)前端金剛石壓頭與被測(cè)件接觸,在均勻的接觸壓力下,探測(cè)頭的諧振頻率隨硬度而改變,通過(guò)計(jì)量該頻率的變化達(dá)到測(cè)量硬度的目的。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2024-08-24
  • 訪  問(wèn)  量:471

詳細(xì)介紹

品牌GE/美國(guó)價(jià)格區(qū)間面議
測(cè)定材料金屬硬度計(jì)儀器類型便攜式
應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,能源,建材,電子,電氣

Krautkramer MIC 10超聲波硬度計(jì)華東代理


GE的MIC 10可根據(jù)UCI方法(超聲波接觸阻抗 - 根據(jù)ASTM A1038和DIN 50159標(biāo)準(zhǔn)化)快速方便地進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)硬度測(cè)試。超聲波硬度計(jì)由手持式PDA和CUI測(cè)量探頭組成,兩者之間通過(guò)線纜連接,通過(guò)硬度計(jì)前端金剛石壓頭與被測(cè)件接觸,在均勻的接觸壓力下,探測(cè)頭的諧振頻率隨硬度而改變,通過(guò)計(jì)量該頻率的變化達(dá)到測(cè)量硬度的目的。

IC 10系列MIC 10的規(guī)格使用經(jīng)過(guò)認(rèn)證的Vickers測(cè)試塊。 當(dāng)使用脊?fàn)钪危ɡ鏜IC-222試驗(yàn)臺(tái))時(shí),5個(gè)讀數(shù)的平均值應(yīng)在其認(rèn)證值的±3.6%之內(nèi)。 手寫測(cè)試應(yīng)至少對(duì)10個(gè)讀數(shù)進(jìn)行平均,公差為±5%。 作為比較的參考,MIC 10系列可實(shí)現(xiàn)的±3.6%HV范圍轉(zhuǎn)換為羅克韋爾C標(biāo)度,如下表所列。

此外,為了與臺(tái)式Rockwell測(cè)試儀比較,還列出了由ASTM E18定義的這些硬度水平的所需重復(fù)性。材料表面中的金剛石壓痕被電子地測(cè)量并且即時(shí)顯示,而不使用通常與常規(guī)硬度測(cè)試儀相關(guān)的麻煩的光學(xué)評(píng)價(jià)。

MIC10超聲波硬度計(jì)探頭和附件:
手動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)探頭MIC201A:10N/1Kgf負(fù)載,特別適用于小凹槽表面
手動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)探頭MIC205A:50N/5Kgf負(fù)載,適用于大多數(shù)的應(yīng)用
手動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)探頭MIC2010A:100N/10Kgf負(fù)載,適用于粗晶粒材料和粗糙表面
手動(dòng)短探頭MIC201AS(10N/1Kgf負(fù)載)/MIC205AS(50N/5Kgf負(fù)載)
手動(dòng)長(zhǎng)探頭MIC201AL(10N/1Kgf負(fù)載)/MIC205AL(50N/5Kgf負(fù)載),配備有一個(gè)較長(zhǎng)的振蕩棒(37mm)。用于測(cè)量輪廓表面,或工件結(jié)構(gòu)深的內(nèi)腔/凹槽中。如蝸桿齒輪和嚙合齒輪。
電動(dòng)探頭MIC2103A(3N/0.3Kgf)、MIC211A(大約8N/0.8Kgf)和電動(dòng)探頭MIC2101A(1N/0.1Kgf),配置有電動(dòng)控制的維氏硬度計(jì)金剛石,能獲得可靠的測(cè)量結(jié)果。
檢驗(yàn)合格的硬度參考?jí)K

測(cè)量原理簡(jiǎn)析:

傳統(tǒng)的維氏或布氏硬度測(cè)試需要在負(fù)載下由其壓痕產(chǎn)生的壓痕的面積的光學(xué)評(píng)價(jià)。 使用UCI(超聲波接觸阻抗)方法的測(cè)試,測(cè)試壓痕的對(duì)角線(為了確定維氏硬度值而必須已知)的對(duì)角線不像通常那樣光學(xué)地評(píng)估,但是凹痕區(qū)域通過(guò)測(cè)量 超聲頻率。

UCI方法適用于測(cè)試薄的氮化或滲碳的表面硬化層或涂層如鉻。為了確保讀數(shù)不受襯底材料的影響,必須考慮維氏硬度鉆石的穿透深度。通常,層的厚度應(yīng)該是壓痕深度的十倍的zui小值。但是,盡管如此,試樣的總厚度應(yīng)該至少為2-3mm,否則樣品必須連接到支撐板


通常,通過(guò)壓痕采樣的面積越大,測(cè)試結(jié)果越*。非均勻材料或由大粗晶粒組成的微觀結(jié)構(gòu)的變化被平均,提供*的結(jié)果。較大壓痕的另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是對(duì)表面光潔度的要求較低,從而減少了準(zhǔn)備表面的時(shí)間。相比之下,回彈測(cè)試儀的各種沖擊裝置產(chǎn)生的壓痕遠(yuǎn)大于由任何UCI探針產(chǎn)生的壓痕。當(dāng)測(cè)試大型鑄件和鍛件時(shí),建議使用回彈儀。測(cè)試由均質(zhì)材料或已經(jīng)接受表面硬化處理的那些組件構(gòu)成的小部件需要由UCI探針產(chǎn)生的較淺的凹槽。


MIC 10超聲波硬度計(jì)特征:

有效支持重復(fù)測(cè)試和文檔
易于硬度測(cè)試操作
單個(gè)或作為活動(dòng)算術(shù)平均值
預(yù)編程校準(zhǔn)參數(shù)
儀器操作可根據(jù)具體測(cè)試要求定制
根據(jù)ASTM A 1038標(biāo)準(zhǔn)化
探頭負(fù)載從1N(HV0.1)到98N(HV10)
自動(dòng)轉(zhuǎn)換成不同的硬度和抗拉強(qiáng)度
數(shù)據(jù)記錄器版本,帶有用于測(cè)量數(shù)據(jù)和儀器設(shè)置的內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器



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