簡要描述:USM 32X系列探傷儀GE*授權銷售美國GE作為無損檢測行業(yè)的,GE檢測科技以技術為先導,為客戶提供高效、優(yōu)質和安全的檢測解決方案。其檢測技術涵蓋膠片系統(tǒng)、超聲、渦流、X射線、計算機射線成像(CR),數(shù)字化射線成像(DR)和工業(yè)內窺鏡等多個領域,對被檢測材料不會造成變形或損害,廣泛應用于航空航天、鋼鐵、電力、石油天然氣和汽車等行業(yè)。
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品牌 | GE/美國 |
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USM 32X系列探傷儀GE*授權銷售
美國GE作為無損檢測行業(yè)的,GE檢測科技以技術為先導,為客戶提供高效、優(yōu)質和安全的檢測解決方案。其檢測技術涵蓋膠片系統(tǒng)、超聲、渦流、X射線、計算機射線成像(CR),數(shù)字化射線成像(DR)和工業(yè)內窺鏡等多個領域,對被檢測材料不會造成變形或損害,廣泛應用于航空航天、鋼鐵、電力、石油天然氣和汽車等行業(yè)。
USM 32X系列探傷儀GE*授權銷售
USM 32X系列探傷儀為GE檢測科技推出的一款功能實用*進,價格貼近中國用戶的通用型超聲波探傷儀。它秉承KrautKramer USM系列一貫精巧結實的設計風格和優(yōu)良可靠的內在品質,具有中文/英文操作界面,操作直觀簡便。彩色半跨距顯示技術使缺陷定位更容易。同時,創(chuàng)新采用大容量鋰聚合物安全電池,總重量僅1.8公斤。 根據(jù)IP54標準設計的防護
USM 32X系列探傷儀規(guī)格參數(shù):
zui小范圍:0.2 (鋼)[inch] 0,5 (鋼)[mm]
材料聲速:0.039-0.590[inch/μs] 1000-15000[m/s]
測量分辨率:0,001[inch] 0,01[mm]
報經:LED
數(shù)據(jù)集:100
數(shù)據(jù)存儲:傳送A掃描,測試報告,測量值,功能清單, PCX 或存儲A掃描實際設置
對話語言:20
接口:RS 232, 雙向
打印機驅動器:EPSON, Seiko DPU, HP DeskJet, HP LaserJet
電池:6.6 Ah內置Li-Ion電池,或6 節(jié)C(二號)電池(AlMn, NiCd, NiMH)
電池使用時間:Li-Ion電池為14小時,NiMH電池為3小時
電源組/電池充電器:通過一個外接電源進行(100 –240 V AC, 50 –60 Hz)
顯示屏:帶背光TFT彩色液晶顯示屏
顯示屏大小, 寬x 高:4.6 x 3.4 inch] (116 x 87[mm])
顯示屏分辨率:320 x 240[pixels]
A掃描大小, 寬x 高:4.6 x 3.2[inch] 116 x 80[mm] 320 x 220(變焦距)[pixels]
尺寸, 寬x 高x 厚:10 x 6.7 x 3.9[inch] 255 x 177 x 100[mm]
重量:5[lbs] 2,2kg]
運行溫度:2-115[°F] 0-60[°C]
環(huán)境要求:IP 66
標準:EN 12668-1
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以上是美國GE USM 32X系列探傷儀的詳細信息,由上海吉馨實業(yè)發(fā)展有限公司 自行提供,如果您對美國GE USM 32X系列探傷儀的信息有什么疑問,請與我司進行進一步,獲取美國GE USM 32X系列探傷儀的更多信息。
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