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EPK測厚儀(Elektrophysik)探頭現(xiàn)貨供應(yīng)

簡要描述:EPK測厚儀(Elektrophysik)探頭現(xiàn)貨供應(yīng)
MiniTest 2500/4500 系列涂層測厚儀提供多種測量探頭,使其可以處理標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用以及更復(fù)雜的測量任務(wù)。ElektroPhysik提供渦流和磁感應(yīng)探頭,涵蓋了所有應(yīng)用。以下是*受歡迎的探頭,如果您沒有找到所需的探頭,請告訴我們您的應(yīng)用詳細(xì)信息。

  • 產(chǎn)品型號(hào):MiniTest2500/4500
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2024-08-25
  • 訪  問  量:443

詳細(xì)介紹

品牌ElektroPhysik/德國EPK價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車
價(jià)格區(qū)間面議產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車

 EPK測厚儀(Elektrophysik)探頭現(xiàn)貨供應(yīng)

涂層厚度測量的成功主要取決于正確選擇探頭。 ElektroPhysik提供渦流和磁感應(yīng)探頭,涵蓋了所有應(yīng)用。以下是*受歡迎的探頭,如果您沒有找到所需的探頭,請告訴我們您的應(yīng)用詳細(xì)信息,我們將為您提供幫助。MiniTest 2500/4500 系列涂層測厚儀提供多種測量探頭,使其可以處理標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用以及更復(fù)雜的測量任務(wù)。

涂鍍層厚度的測量方法主要有:磁吸力原理,電磁測量法 ,渦流測量法,射線熒光法66射線反向散射法,楔切法, 光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法等等。這些方法中前5種方法為無損測業(yè)后五種為有損檢測。

 

磁感應(yīng)測量原理采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小, .來表示其夏層厚度。夏層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁要層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)碰率之差足多大(如鋼.上鍍鎳)。當(dāng)軟芯, 上繞著線圈測頭放在被測樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測量感應(yīng)電動(dòng)勢的大小儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻,鎖相,溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)。利用磁阻來調(diào)制測量信號(hào)。還采用*設(shè)計(jì)的集成電路引入微機(jī),使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)-一個(gè)數(shù)量級]。磁性原理測厚儀可應(yīng)用來準(zhǔn)確測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、 橡膠夏層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油行業(yè)的各種防腐涂層。

 

應(yīng)用范圍由連接到主機(jī)的探頭決定:

        ?F-型探頭根據(jù)磁感應(yīng)原理工作,可以測量涂覆在鋼鐵(包括鋼合金和淬硬磁鋼)上的涂料、搪瓷、橡膠、鋁、鉻、銅、鋅等非磁性涂層。
        ?N-型探頭根據(jù)渦流原理工作,并測量應(yīng)用于所有有色金屬(如鋁、銅、鋅壓鑄件、黃銅等,包括奧氏體-尼龍鋼)上的絕緣涂料,如涂料、陽極氧化、陶瓷等。
        ?FN-型探頭結(jié)合了兩種原理,并識(shí)別涂層下面的基材,從而自動(dòng)切換到正確的測量原理,以測量鋼材或有色金屬基

MiniTest 2500/4500
探頭選型(
EPK測厚儀(Elektrophysik)探頭現(xiàn)貨供應(yīng)

 
探頭型號(hào)FN 1.6FN 1.6/90F 05F 3
應(yīng)用:鋼鐵上的非磁性涂層和
有色金屬上的絕緣涂層。
用于標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的全能型。

時(shí)供應(yīng)F 1.6版本僅用于在
磁性基材上測量或 
N 1.6 版本僅用于在有色金
屬上測量。
鋼鐵上的非磁性涂層和
有色金屬上的絕緣涂層。
特別適合測量管道或難以
進(jìn)入的物體。
同時(shí)供應(yīng)僅用于在磁性基
材上測量的F 1.6/90版本或
僅用于在有色金屬上測量
的版本 N 1.6/90 。
極薄的有色金屬,氧化物或
油漆涂層在小鋼鐵工件上。
z高精度用于薄涂層的。
鋼鐵上的非磁性涂層,
厚涂層和搪瓷涂層。
涂層厚度測量的經(jīng)典之
作。

 
技術(shù)數(shù)據(jù)
測量范圍 : 0…1600 μm0…1600  m0…500μm 0…3000μm
低端分辨率: 0.1 μm0.1 μm0.1 μm0.2 μm
保證公差 ± (1%+1 μm) *± (1%+1 μm) *± (1%+0.7 μm) *± (1%+1 μm) *
(讀數(shù)的):     
*小
曲率半徑 
(凸/凹): 
1.5 mm凸面/
10 mm凹面
平面和凸面/
6 mm凹面
1.5mm凸面/
10 mm凹面
1.5mm凸面/
10 mm凹面
*小
測量區(qū)域 :
Ø 5 mmØ 5 mmØ 3 mmØ 5 mm
*小
基體厚度 :
F 0.5 mm/N 50 μm F 0.5 mm/N 50 μm 0.1 mm 0.5 mm 
 
探頭型號(hào)N 02N 08.CrF 10F 20
應(yīng)用:非常薄涂層的*解決方案。
非鐵金屬上的絕緣層如漆
膜,搪瓷或陽極氧化層,
測量分辨率高 (0.1 μm)
并且僅25g的限定跟蹤
在銅基板上測量*大厚度
為 80μm的鍍鉻層的特殊版
本,*小基體厚度100μm。

 
在罐體,管道和集裝箱
建筑上類似塑料的厚涂
層。

 
管道構(gòu)造中的厚塑料,橡
膠或混凝土層以及耐腐蝕

 
技術(shù)數(shù)據(jù)
測量范圍 : 0…200μm0…80μm0…10000μm0…20000μm
低端分辨率: 0.1 μm0.1 μm5 μm10 μm

保證公差 

(讀數(shù)的): 

± (1%+0.5μm) *± (1%+ 1μm/0.04 mils) *± (1%+10μm/0.4 mils) *± (1%+20 μm) *
*小
曲率半徑 
(凸/凹): 
1mm凸面
/ 5mm凹面

 
2,5 mm 凸面/
10 mm 凹面
5 mm凸面/
16 mm凹面
10 mm凸面/
30 mm凹面
*小
測量區(qū)域 :
Ø 2 mmØ 5 mmØ 20mmØ 40 mm
*小
基體厚度 :
50 μm 100μm1 mm 2 mm 
 
探頭型號(hào)F 50N 10N 20N 100F 2 HT
應(yīng)用:

非常厚的耐腐蝕

層和防鼓層

用于測量有色金屬上

的橡膠,塑料,玻璃

等絕緣層。

有色金屬上的絕緣涂

,如 橡膠、塑料

、玻璃

有色金屬上的厚絕

緣層和復(fù)合材料。

特殊的高溫探頭允許

達(dá)250°C 350° C

表面溫度的熱表面上

進(jìn)行涂層厚度測量。

測量范圍 : 0…50000μm0…10000μm0…20000μm0…100000μm0…2000μm
低端分辨率: 10μm10μm10μm100μm0.2μm

保證公差 

(讀數(shù)的): 

± (1%+25μm) *± (1%+50μm) *± (1%+50μm) *± (1%+0.3μm) *± (1 %+1μm) *
*小
曲率半徑 
(凸/凹): 
50mm凸面/
200mm凹面
25mm凸面/
100mm凹面

 
25mm凸面/
100mm凹面

 
100mm凸面/
平面

 
1.5mm 凸面/
10mm 凹面

 
*小
測量區(qū)域 :
Ø 300mmØ 50mmØ 70mmØ 200 mmØ 5mm
*小
基體厚度 :
2mm 50μm 50μm 50μm0.5mm

上海吉馨實(shí)業(yè)發(fā)展有限公司 主營檢測儀器設(shè)備有:

    ==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測厚儀、便攜式涂鍍層測厚儀;
    ==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測量儀;
    ==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測量儀、千分尺、卡尺;
    ==>>德國EPKElektrophysik)手持式涂覆層測厚儀;
    ==>>德國艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀;
    ==>>美國API  XD系列激光干涉儀;
    ==>>美國GE無損檢測超聲波探傷儀、超聲波測厚儀;
    ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測高儀、千分尺、卡尺;
    ==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測量機(jī)測頭測針、機(jī)床測頭、位置編碼器、光柵、激光尺;
    ==>>德國FraunhoferIZFP無損檢測技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測量系統(tǒng);
    ==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測器;
    ==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀;
    ==>>TRIMOS測長儀、測高儀、萬能測長機(jī);
    ==>>杭州思看科技三維掃描儀.

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  • 聯(lián)系人:陳先生
  • QQ:89478409
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